CyberOptics Semiconductor 製品紹介
装置改善プロジェクトに最適な測定ツールを紹介致します。
半導体プロセス装置の能率性改善と調整時間短縮を達成する為、世界中のデバイスメーカーから選ばれている革新的な測定ツールです。ウエハライク形状の測定器が半導体製造プロセス装置における客観的な測定を行うので、改善効果のある数値パラメータを誰でも簡単に取得することが出来るという高精度製品を提供しています。
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装置改善プロジェクトに最適な測定ツールを紹介致します。
半導体プロセス装置の能率性改善と調整時間短縮を達成する為、世界中のデバイスメーカーから選ばれている革新的な測定ツールです。ウエハライク形状の測定器が半導体製造プロセス装置における客観的な測定を行うので、改善効果のある数値パラメータを誰でも簡単に取得することが出来るという高精度製品を提供しています。
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